博客

用于硅光子和照片的新组件分析仪

在最近在San Diego的OFC 2018年,我们推出了Luna的Luna的高性能测试设备的最新成员,为Liftwave行业。LCA 500 LightWave分量分析仪将行业领先的分辨率和高速设置的灵敏度与高速和简化的设置相结合,以提供一个组件表征解决方案,其延伸超过研发实验室和生产地板。

lca_500_left.

高保真IL,RL和PDL

现代硅光子和光子集成电路(PICS)的迅速推进技术正在推动对能够准确地表征小型化宽带部件的更高精度测量解决方案的需求。LCA 500提供高度准确的损耗测量,包括插入损耗(IL),返回损耗(RL)和极化相关损耗(PDL),这对于现代集成光子元件至关重要。

lca_screenshot.

简化设置

像Luna的其他Lightwave测试产品一样,LCA 500简化了测试设置和配置,包括内置精密可调激光源(TLS),并能够测量传输和反射中的组件。LCA 500还通过完整的C和L频段或频段的快速扫描减少了测试时间,我不到3秒。因此,简化了您的测试设置和执行而无需外部TLS或手动重新连接。

了解更多信息LCA 500 LightWave组件分析仪