偏振测试与分析

Luna广泛的先进偏振测试和偏振测量产品组合可以准确地测量和分析光学材料、组件和网络中所有基本的偏振相关特性。

光学元件和系统对偏振状态(SOP)非常敏感。例如，光信号的衰减可能因其SOP的不同而不同。这被称为极化相关损耗(PDL)。双折射光学元件对于不同的偏振具有不同的折射率，导致光以略有不同的速度传播，从而产生差分群延迟(DGD)。在光纤中，具有沿其长度变化的双折射部分，这种效应称为偏振模色散(PMD)。

偏振态与庞加莱球表示

光的偏振状态是光信号的一个重要参数，因为它影响光束与光学介质或光学元件相互作用时的行为。Luna的直列偏振计将通过的光分成四束不同的光束，而不会中断光信号，如下图所示:

任何SOP都可以表示为球面上的一个点。这种偏振状态的三维表示被称为庞加莱球表示。Luna的偏振计可以使用PolaView显示偏振的实时变化，如下图所示:

光学材料、元件和光学网络中的偏振效应

在光纤通信系统中，来自光纤和光学组件的PDL和PMD的存在是光信号退化的来源，可能导致接收器检测到错误的数据。因此，从发射机、光纤网络到接收机的所有光学器件都需要波长相关的测量和偏振相关参数的表征。

偏振控制的关键测量

Luna解决方案提供先进的偏振相关测量，用于光学元件的完整表征，包括:

• 偏振状态(SOP)
• 偏振度(DOP)
• 插入损耗(IL)
• 偏振相关损耗(PDL)
• 偏振模色散(PMD)
• 极化态的演化
• 偏振消光比(PER)
• 琼斯矩阵元素
• 穆勒矩阵元素