传感与无损检测

厚度监控

对于许多制造的产品,精确测量多层厚度的能力对于确保一致的质量,减少缺陷和减少材料的使用是至关重要的。太赫兹技术提供了一种测量解决方案,它有很多好处,包括

  • 非接触式测量
  • 使用不透明和半透明材料
  • 多层厚度测量
  • 高分辨率和精度

太赫兹技术

太赫兹辐射是位于微波和远红外之间的电磁频谱的一部分,频率范围为0.1 - 10太赫兹,波长为3毫米到0.03毫米。太赫兹辐射可以用来测量和成像材料产生高的时间分辨率(低至一微米),并可以分辨时间和振幅信息。这种传感器信噪比高,能产生图像并能观察内部结构。

测厚仪

多层厚度测量

与传统的厚度测量技术不同,太赫兹传感器可以很容易地高精度测量多层。例如,对于包含EVOH阻挡层的薄壁多层封装材料,传统的红外测厚仪无法确定EVOH层的位置和材料总量,只能在对红外辐射足够透明的材料上测量。一个太赫兹传感器可以区分和测量所有三个共挤压层,即使是在不透明的情况下。

由于太赫兹传感器测量是非接触式和实时的,高精度的厚度测量可以作为反馈来改进和优化制造工艺。

过程控制中的多层厚度测量

主打产品

TCU太赫兹控制器

太赫兹测量和成像

TCU太赫兹控制器

太赫兹测量和成像

TeraMetrix是Luna公司的太赫兹测量和成像产品线,使用脉冲太赫兹波提供单层和多层厚度、密度、基重和卡规厚度的精确测量。
向露娜伸出手

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