案例研究

参见分辨率< 10 μm的光子集成电路内部

对高精度、高速、先进的测试和测量仪器的需求对当今的光子系统和器件至关重要。


光子集成电路光子集成电路(PICs)是高速通信、光学计算、航空航天、国防和医疗应用的关键元件。

但是,PICs的测试和度量具有挑战性,这是将产品推向市场的总体成本的重要因素。有效的PICs测试需要更全面和复杂的方法,以确保最佳、可靠的性能和降低开发成本。

Luna拥有以微米级空间分辨率在传输模式或反射模式下“看内部”PICs的技术,从而对该设备进行完整的光学表征。

Luna提供广泛的测试解决方案,专门为减少测试时间产量增加以最小的集成努力,为制造商和设计师提供他们需要的工具,根据规格第一次和每次构建产品。

向露娜伸出手

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