参见< 10 μm分辨率的光子集成电路内部

对高精度、高速的先进测试和测量仪器的需求对于当今的光子系统和组件是必不可少的。

光子集成电路(PICs)是高速通信、光学计算、航空航天、国防和医疗应用中的关键元素。

但是，pic在测试和测量方面可能具有挑战性，这是将产品推向市场的总体成本的重要组成部分。有效地测试pic需要更全面和复杂的方法，以确保最佳、可靠的性能和降低开发成本。

Luna拥有在传输模式或反射模式下“观察内部”的技术，具有微米级的空间分辨率，可以对设备进行完整的光学表征。

Luna提供广泛的测试解决方案，专门设计用于减少测试时间和产量增加通过最小的集成工作，为制造商和设计人员提供他们第一次以及每次根据规格构建产品所需的工具。