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用先进的测试和自动化技术加速硅光子学的发展

概述

本次网络研讨会将介绍Luna公司的先进的硅光子学测试方法和枫叶光子学的模块化和灵活的模具自动化测试平台,以及如何将这两项技术集成到一个有效的完整的硅光子学解决方案中。演讲者将展示如何利用快速和精确的设备表征技术和智能探针站技术,在制造过程的早期,甚至在晶圆完成之前,评估设计和制造的保真度。

与会者将学习如何将这些扩展到后端处理的各个阶段,光学组件和组件的形式,以加快您的开发周期,并消除非增值活动。

关键的外卖

  • 了解硅光子学测试在晶圆、晶片和组件层面的重要性和独特挑战
  • 了解如何使用Luna的OBR和OVA技术进行快速和详细的全参数设备表征
  • 在制造和开发周期的早期充分描述复杂的E-O设计,以确定产量限制、性能边际、fab错误和其他失误
  • 快速学习并调整您的测试协议,以揭示在运行中代表您的设计的最重要属性,并确保制造公差得到保持

主持人

  • Brian J. Soller,博士,Luna Innovations高级副总裁兼总经理
  • B. Roe Hemenway,博士,首席技术官,枫叶光电

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