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网络研讨会:高分辨率非接触式太赫兹无损检测技术

概述:

基于太赫兹技术的无损检测(NDT)系统正在成为广泛应用于航空航天领域的宝贵工具。由于具有很高的分辨率和安全、非接触操作,太赫兹技术被用于检查和分析非导电材料,传统的无损检测方法,如超声、微波和x射线,难以实现。例如,太赫兹成像可以用来测量涂层厚度,具有非常高的精度,密度和均匀性的粘着泡沫,分层,多层结构的详细成像。
本次网络研讨会将概述太赫兹无损检测技术的应用,比较不同的检测技术,以及在航空航天应用中部署基于太赫兹的无损检测解决方案的实例。

当:

美国东部时间2021年8月10日,星期二上午11点

主讲人:David A. Zimdars,太赫兹合同研发总监,Luna Innovations

Zimdars博士是Luna Innovations, Inc.的太赫兹合同研发总监。自2001年以来,Zimdars博士一直担任所有太赫兹科学、工业和国土安全产品开发合同、商业T-Ray®分析/成像系统开发和太赫兹制造质量控制应用开发的研发经理。他的研究工作集中在超快飞秒激光光谱学。他目前有超过85篇文章和会议出版物,并拥有10项专利。Zimdars博士在斯坦福大学(Stanford University)获得化学博士学位,在落基山学院(Rocky Mountain College)获得学士学位。

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