完成单扫描设备分析
完成所有参数线性成分表征
以无与伦比的速度,精度和准确性测试和表征现代光学元件,包括光子集成电路(PICs)和硅光子学。使用Luna的组件分析仪和测试器套件加速和改进您的设计或优化您的生产。
从全面的矢量分析仪到高性能参数测试仪,Luna的光学元件测试解决方案可以帮助您深入了解并验证新设计或优化产品。
获得对您的设计和流程的新见解,并确保您的组件的设计和构建达到最佳性能。
以无与伦比的速度、精度和空间分辨率测试和表征光纤电缆、组件和网络。Luna的OBR反射仪可以分析损失,具有业内无与伦比的空间分辨率和灵敏度。
无论是表征链路性能,在生产线上测试组件,还是在现场排除系统故障,Luna的OBR技术都能提供快速准确的结果。
Luna的光学后向散射反射(OBR)系统为短程光纤系统的制造和维护提供了无与伦比的测量能力。
使用我们的无损、基于光纤挤压的多功能偏振控制器来控制和管理您的光学系统中的偏振,以实现最高性能。使用我们完整的工业标准网络和系统表征仿真产品线,模拟所有极化损伤参数,包括SOP, PMD和PDL。
凭借在动态极化管理领域超过20年的经验,Luna行业领先的极化产品组合为您的下一个开发项目提供所需的所有解决方案。
深入了解极化行为及其对系统的影响,以获得更好的性能和更高的测量精度。
Luna为各种光纤系统提供完整的高性能有源和无源光纤模块和组件系列,包括用于光纤传感的干涉测量系统,光纤陀螺仪(FOG)和光学相干断层扫描(OCT)。
用于滤波、极化管理、延迟控制、检测、光纤线圈等的标准和可定制模块和组件。
标准和定制解决方案,以优化您的系统