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pdl - 201

偏振相关损耗(PDL)万用表

PDL-201测量偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)和光功率

产品描述

PDL-201采用符合TIA/EIA-455-198专利的最大和最小搜索方法,在30毫秒内同时测量器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)和光功率。与使用极化置乱方法的PDL表不同,PDL-201的最大最小技术对PDL的低值和高值都有用。与使用米勒矩阵技术的仪器不同,PDL-201具有宽波长范围,无需校准。

仪器的测量速度与远程控制接口相结合,允许它与自动或半自动测试站中的可调谐激光器一起工作。

解决方案和应用程序

光纤

PDL-201可用于具有光输入和输出的设备或组件的PDL/IL测量。应用领域包括无源器件和DWDM器件的表征。

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