PDL-201测量偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)和光功率
PDL-201采用符合TIA/EIA-455-198专利的最大和最小搜索方法,在30毫秒内同时测量器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)和光功率。与使用极化置乱方法的PDL表不同,PDL-201的最大最小技术对PDL的低值和高值都有用。与使用米勒矩阵技术的仪器不同,PDL-201具有宽波长范围,无需校准。
仪器的测量速度与远程控制接口相结合,允许它与自动或半自动测试站中的可调谐激光器一起工作。
详细规格请下载数据表。