过程控制和无损检测

密度测量

在加工过程中准确测量材料光密度的能力可以是最小化不合格品和最大化产品吞吐量的重要因素。密度测量然而,测量泡沫等可压缩材料的密度是很困难的。如果不压缩样品表面,就不能使用传统的接触式压力表,从而产生不准确的测量结果。将测量延迟到泡沫成型后,会造成大量的过程反馈延迟。

Luna的t型测量系统

T-Gauge测量系统利用太赫兹技术创造了一种安全的非接触式解决方案,不仅可以测量可压缩材料的厚度而无需校准,还可以测量单个传感器的密度。太赫兹系统甚至可以测量有其他材料层的泡沫层的密度使用太赫兹技术进行密度测量(如纸板或塑料衬板)周围的泡沫层。由于脉冲的波长很长,传感器对泡沫的颜色也不敏感。

主打产品

TCU太赫兹控制器

太赫兹测量与成像

TCU太赫兹控制器

太赫兹测量与成像

TeraMetrix是Luna的太赫兹测量和成像产品线,使用脉冲太赫兹波提供单层和多层厚度,密度,基重和卡尺厚度的精确测量。

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