通信测试和光子控制

光学器件测试和表征

第15组

概述

需要高精度,高速高级测试和测量仪器对于当今的光子系统和组件至关重要。LUNA提供广泛的测试解决方案,专门设计用于降低测试时间并增加产量,并以最小的整合工作增加。从简单的IL / PDL测量到更复杂的表征和分析工具,LUNA为制造商和设计人员提供了根据SPED的第一次,每次都需要构建产品。

PIC和硅光态测试

光子集成电路(PIC)是满足带宽,容量和性能的指数增长需求的关键技术。早期和整个开发周期的快速,准确和完全测试是必不可少的。
硅光子照片PIC设备

相干接收器的极化性能测试

相干的DWDM技术使得在单波长上传输高达800 Gbps的数据,以满足对更多网络带宽的越来越大。影响相干通信系统性能的重要光学参数之一是极化。这些系统需要严格的极化测试,以定量表征相干接收器的所有偏振相关功能。
光纤电缆