光学器件测试和表征

PIC和硅光态测试

光子集成电路(PICS)是通信,光学计算,航空航天,防御和医疗应用的关键推动器推动。光子学集成电路然而,PICS引入了独特的测量挑战,测试仍然是对将产品带到市场的总体成本的大贡献。有效测试现代照片需要更全面和更复杂的方法,以确保最佳性能和降低的开发成本。

Luna广泛的测试和测量解决方案为客户提供高精度、分辨率和测量速度仪器,以定量评估芯片上每个组件的光学性能,无论是在早期原型阶段还是在生产阶段。

从一侧或两者访问芯片

Luna具有技术在传输模式或反射模式中查看的技术,具有微米级空间分辨率,以实现设备的完整光学表征。

典型测量包括:

  • 插入损耗(IL)
  • 回报损失(RL)
  • 偏振依赖性损耗(PDL)与波长
  • 反射率/传输损耗与距离
  • 反射率/传输损耗与波长
  • 阶段响应
  • 集团延迟(GD)
  • 色散(CD)与波长
  • 偏振模式色散(PMD)与波长
  • 二阶PMD与波长
  • 偏极导致的最小/最大损失
  • 脉冲响应
  • 琼斯矩阵和穆勒矩阵元素
  • 相位纹波 - 线性和二次
  • 极化性能与距离
  • 极化串扰与距离
  • 极化程度(DOP),偏振状态(SOP)和偏振消光比(PER)

特色产品

光学测试产品

光学元件测试

光纤网络测试产品

光纤网络测试

Psy-201.

极化管理和仿真

光纤网络测试产品

光纤网络测试

使用无与伦比的速度,精度和空间分辨率测试和表征光纤电缆,组件和网络。Luna的OBR反射计可以通过在行业中无与伦比的空间分辨率和敏感性分析损失。
Psy-201.

极化管理和仿真

使用我们的无损光纤挤压器的多功能偏振控制器控制和管理光学系统中的极化,可用于最高性能。模拟所有偏振损伤参数,包括SOP,PMD和PDL,我们完整的网络和系统表征系列仿真产品。

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